新しい走査型電子顕微鏡（SEM）を導入、開発を加速

新しい走査型電子顕微鏡（SEM）が納入されました。これまで、電極の状態を想像しながら作製条件を調整していましたが、これからは実際に観察しながらパラメーターを選択することができるようになり、開発のより一層の加速が期待されます。